А.А. Золотов, Э.Д. Нуруллаев
34
ISSN 0236-3941. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. Машиностроение. 2016. № 5
L n( )
L
i
1
i
k
M 15( )
k k
i 1 n
for
L
X
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
L X( )
0
2
5.65
10
14.4
18.5
22.2
25.2
27.6
29.5
30.9
31.9
32.6
33.1
33.4
33.6
N X( )
0
2
4
10
16
18
22
24
28
30
31
360
360
360
360
360
Рис. 9.
Распределение зафиксированных
N
(
X
) и прогнозируемых
L
(
X
)
чисел ошибок по количеству циклов тестирования
Рис. 10.
Изменение эксперимен-
тальной
( )
N i
(точечная кривая) и
сглаживающих кривых
( )
L i
(сплош-
ная линия) и
( )
M i
(штриховая
линия) от количества циклов тести-
рования
Как следует из графиков, результаты расчетов по обеим моделям хорошо
согласуются с экспериментальными данными и друг с другом. В то же время
надо заметить, что использование численной модели позволяет расширить круг
задач, решаемых при прогнозировании надежности ПО. В частности, предлага-
емая методика может быть использована для доработок различного характера и
разных моментов начала доработок, что требует уточнения параметра
:
β = 1 — сохранение ошибок по мере обнаружения;
β = 0 — полное устранение ошибок по мере обнаружения («выжигание»
отказов);
0 < β < 1 — частичное устранение ошибок по мере обнаружения;
β > 1 — ввод новых ошибок.
Для всех вариантов параметра β уточнение параметра
r
в диапазоне
1, 2, …,
n
–1 предполагает, что доработки начинают выполнять после 1, 2, …,
n
–1
циклов тестирования. В рассмотренном примере для сравнения аналитического
и численного методов принято
β 0.
Преимущество предлагаемой методики также заключается в том, что она
основывается только на анализе формирования отказов при тестировании и не