Previous Page  11 / 14 Next Page
Information
Show Menu
Previous Page 11 / 14 Next Page
Page Background

А.А. Золотов, Э.Д. Нуруллаев

34

ISSN 0236-3941. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. Машиностроение. 2016. № 5

L n( )

L

i

1

i

k

M 15( )

k k

i 1 n

 

for

L



X

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15



L X( )

0

2

5.65

10

14.4

18.5

22.2

25.2

27.6

29.5

30.9

31.9

32.6

33.1

33.4

33.6



N X( )

0

2

4

10

16

18

22

24

28

30

31

360

360

360

360

360



Рис. 9.

Распределение зафиксированных

N

(

X

) и прогнозируемых

L

(

X

)

чисел ошибок по количеству циклов тестирования

Рис. 10.

Изменение эксперимен-

тальной

( )

N i

(точечная кривая) и

сглаживающих кривых

( )

L i

(сплош-

ная линия) и

( )

M i

(штриховая

линия) от количества циклов тести-

рования

Как следует из графиков, результаты расчетов по обеим моделям хорошо

согласуются с экспериментальными данными и друг с другом. В то же время

надо заметить, что использование численной модели позволяет расширить круг

задач, решаемых при прогнозировании надежности ПО. В частности, предлага-

емая методика может быть использована для доработок различного характера и

разных моментов начала доработок, что требует уточнения параметра

:

β = 1 — сохранение ошибок по мере обнаружения;

β = 0 — полное устранение ошибок по мере обнаружения («выжигание»

отказов);

0 < β < 1 — частичное устранение ошибок по мере обнаружения;

β > 1 — ввод новых ошибок.

Для всех вариантов параметра β уточнение параметра

r

в диапазоне

1, 2, …,

n

–1 предполагает, что доработки начинают выполнять после 1, 2, …,

n

–1

циклов тестирования. В рассмотренном примере для сравнения аналитического

и численного методов принято

β 0.

Преимущество предлагаемой методики также заключается в том, что она

основывается только на анализе формирования отказов при тестировании и не