8 / 12
Е.И. Косарина, А.В. Степанов, А.А. Демидов
88
ISSN 0236-3941. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. Машиностроение. 2016. № 4
На яркость изображения существенно влияют толщина и плотность про-
свечиваемого материала. На практике при контроле объектов используют мак-
симальный анодный ток. Поэтому при контроле материала, данных плотности и
толщины возможным средством повышения чувствительности метода (за счет
увеличения яркости изображения) является увеличение напряжения на трубке
и уменьшение фокусного расстояния. Однако при увеличении анодного напря-
жения и сокращении фокусного расстояния снижается контраст и четкость ра-
диационного изображения. Значительное уменьшение фокусного расстояния
возможно лишь для остро- и микрофокусных трубок. Таким образом, при рент-
геноскопическом контроле не всякое радиационное изображение может быть
преобразовано в оптическое с удовлетворительными характеристиками.
Из полученных условий формирования радиационных изображений
дефектов, размеры которых составляют не менее 2 % просвечиваемой толщины
объекта контроля в направлении оси пучка излучения, а также 0,05 мм в направ-
лении, перпендикулярном оси пучка излучения, рассчитаны относитель-
ные линейные коэффициенты ослабления излучения веществом дефекта,
который может быть обнаружен рентгеноскопическим и рентгенографическим
методами:
деф о.к
о.к
25
1
В d
— для рентгеноскопического метода;
деф о.к
о.к
0,5
1
В d
— для рентгенографического метода.
Итак, для стального объекта толщиной 6 мм регламентировано анодное
напряжение 120 кВ. По данным [4, 5] при анодном напряжении 120 кВ
Fe
=
= 4,67 см
–1
В
= 2,1. Дефект размером 0,12
0,05 мм может быть обнаружен рент-
генографическим методом, если
деф
и
Fe
различаются, по крайней мере, в 2 ра-
за. При рентгеноскопическом контроле
деф
и
Fe
должны различаться почти в
10
20 раз и более.
На рис. 8 приведены результаты расчетов относительных линейных коэф-
фициентов ослабления излучения материалом дефекта для стальных объектов
толщиной 1…20 мм.
Рис. 8.
Зависимость относительного линейного коэффициента ослабления излучения
материалом дефекта для стальных объектов толщиной 1…20 мм с обнаруживаемым
дефектом размером 2 % просвечиваемой толщины по лучу и 0,05 мм перпендикулярно лучу:
а
— рентгенографический контроль;
б
— рентгеноскопический контроль