7 / 12
Рис. 3. Экспериментальные кривые для определения чувствительности к
излучению и широты радиографических пленок
S
= 3
,
5
Б. На каждой ступеньке имеется изображение лунок, опти-
ческая плотность которых выше оптической плотности изображения
собственно ступеньки. По результатам фотометрирования получают
массив данных, показанных в табл. 3.
Таблица 3
Результаты фотометрирования
Относительное
приращение
толщины, %
0
– 1
– 2
– 3
– 5
– 7
– 10
Абсолютная
толщина объ-
екта в месте
расположения
лунки, мм
d d
−
0
,
01
d d
−
0
,
02
d d
−
0
,
03
d d
−
0
,
05
d d
−
0
,
07
d d
−
0
,
10
d
Оптическая
плотность
изображения
лунки, Б
S S
+ Δ
S
1
S
+ Δ
S
2
S
+ Δ
S
3
S
+ Δ
S
5
S
+ Δ
S
7
S
+ Δ
S
10
Используя эти данные, строят зависимость
Δ
S
S
=
f
Δ
d
d
, где
Δ
S
— приращение оптической плотности изображения лунки глуби-
ной
Δ
d
;
S
— оптическая плотность изображения ступеньки толщиной
d
. Пример такой зависимости показан на рис. 4.
Затем по тангенсу угла наклона касательных, проведенных в трех
точках, определяют минимальное, среднее и максимальное значение
G
=
Δ
S/S
Δ
d/d
, затем строят зависимость
G
=
f
(
d
)
. Безразмерный
86 ISSN 0236-3941. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Машиностроение”. 2015. № 3