Background Image
Previous Page  6 / 12 Next Page
Information
Show Menu
Previous Page 6 / 12 Next Page
Page Background

На рентгенограммах, полученных в результате экспонирования ис-

пытательных образцов, изображение каждой ступеньки представляет

собой поле с различной оптической плотностью:

D

n

=

D

0

e

μd

n

B

, где

D

n

— доза излучения, дошедшая до пленки после прохождения

п

ступеньки. Самая низкая оптическая плотность соответствует изобра-

жению самой толстой ступеньки, так как доза излучения, дошедшая

до пленки, минимальная. Относительная доза излучения за каждой

ступенькой пропорциональна параметру

D

n

опт

=

D

n

D

0

=

e

μd

n

B.

Зависимость оптической плотности от десятичного логарифма до-

зы излучения

S

n

=

f

(lg

D

n

)

представляет собой

S

n

=

const

d

n

, где

d

n

— толщина ступеньки. Причем константа учитывает спектральные

свойства излучения и меняется в зависимости от изменения

μ

при

различных значениях анодного напряжения и материала испытатель-

ного образца. Таким образом, определение толщины ступеньки испы-

тательного образца однозначно определяет чувствительность пленки к

излучению. С точностью до константы такой метод определения чув-

ствительности совпадает с данными, приведенным в EN 584-1:2006.

По полученным рентгеновским снимкам можно определить важ-

ную характеристику радиографической пленки — широту. Под широ-

той понимают диапазон толщины материала, изображение которого на

рентгенограмме имеет диапазон оптической плотности, пригодный к

расшифровке снимков:

S

min

= 1

,

5

или 2,0 Б в зависимости от руково-

дящего нормативного документа;

S

mах

= 3

,

5

4

,

0

Б в зависимости от

максимальной яркости негатоскопа, используемого при расшифровке

(рис. 3) [10].

Точки, расположенные на оси абсцисс графика (см. рис. 3), од-

нозначно соответствуют величине, обратной дозе излучения, которая

создает на пленке оптическую плотность, равную 1,5 Б.

Определение контрастных свойств радиографических пленок.

По EN 584-1:2006 контрастные свойства радиографических пленок

определены величиной градиента. На характеристической кривой, по-

строенной с помощью сенситометра, выделяют точки соответствую-

щие оптической плотности 2 Б и 4 Б. Тангенс угла наклона спрямлен-

ного участка характеристической кривой в окрестностях точек, соот-

ветствующих 2 Б и 4 Б называют средним градиентом при

S

S

0

= 2

Б

и

S

S

0

= 4

[10, 11].

Для определения контрастных свойств радиографических про-

мышленных пленок по методике ВИАМ используем радиографиче-

ские снимки испытательных образцов. Для этого выбираем участки

с изображением ступенек с оптической плотностью

S

= 1

,

5

Б и

ISSN 0236-3941. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Машиностроение” 2015. № 3 85