Previous Page  8 / 11 Next Page
Information
Show Menu
Previous Page 8 / 11 Next Page
Page Background

Методический подход и программа для оценки нагруженности, дефектности…

ISSN 0236-3941. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. Машиностроение. 2017. № 5

71

согласно исследованиям № 3, № 4, для определения

s

y

(при неточно известном

т

) следует использовать только поля

u

,

v

— в этом случае точность определения

значительно выше, чем при использовании всех трех полей перемещений (пол-

ное отклонение от точного значения может достигать 15 %). Отметим, что при

точном задании

σ

т

погрешность определения

s

y

не превышает 1,1 %. Исследова-

ние № 5 заключалось в поэтапном определении параметров состояния: сначала

по полям перемещений

u

,

v

,

w

было определено значение

т

, а затем по полям

перемещений

u

,

v

— значение

s

y

. В результате погрешность определения

т

и

s

y

достигает не более 1,1 и 2,5 %. Исследование № 6 показывает, что возможно

также достаточно точно одновременно определять

т

и

s

y

по полям

u

,

v

,

w

.

Основные результаты численных экспериментов

Номер

исследования

Массив

данных

e

Параметры состояния

1

P

2

P

M

D

M

D

1

u

,

v

,

w

1,007

0,006

P

2

= const =

*

2

P

±

P

2

w

1,008

0,005

3

u

,

v

,

w

P

1

= const =

*

1

P

±

P

0,973

0,119

4

u

,

v

1,000

0,075

5

1)

w

2)

u

,

v,

1,006

0,005

1,007

0,018

6

u

,

v

,

w

1,007

0,004

1,005

0,015

Приведенные результаты в целом справедливы и для целевой функции

I

max

,

отличие от

I

rms

заключается в количестве выполняемых при минимизации ите-

раций, которых требуется немного больше. Следует отметить, что использова-

ние

I

rms

обеспечивает получение более точного значения

т

, тогда как использо-

вание

I

max

— значения

s

y

.

Таким образом, на основе результатов проведенных исследований можно

сделать вывод о возможности применения методики индентирования в сочета-

нии с предложенной методикой математической обработки деформационных

откликов для решения задач как самостоятельного определения нагруженности

объекта или свойств материала, так и одновременного их определения.

Дальнейшее применение разработанных подхода и ПК в первую очередь

будет связано с анализом процессов развития дефектов (трещин) в однородных,

структурно-неоднородных материалах, а также волокнистых композитах. В по-

следнем случае в качества способа регистрации деформационных откликов

представляется перспективным применение сетки волоконно-оптических дат-

чиков деформаций, встроенной непосредственно в слои материала натурной

конструкции [12].