Рис. 3. Схема измерения спектральных коэффициентов пропускания:
1
— канал ввода синхротронного излучения;
2
— поворотные и фокусирующие
тороидальные зеркала;
3
— дифракционная решетка;
4
— сменный фильтр из
кварца или MgF
2
;
5
— мишень;
6
— люминесцентная пластинка салицилата натрия;
7
— фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) регистрации пропущенного сигнала;
8
— ФЭУ регистрации опорного сигнала;
9
— магниторазрядные вакуумные
насосы;
10
— криостат;
11
— отсечные клапаны (в правом верхнем углу показан
фрагмент мишенной камеры, соответствующий схеме измерения спектральных
коэффициентов отражения)
Разработанные оптическая система и инструментальные методы
исследования оптических свойств конденсированных сред в сверхвы-
соком вакууме с помощью зондирующего синхротронного излучения
являются эффективными для массового определения спектральных ко-
эффициентов отражения и поглощения, спектров возбуждения и кван-
тового выхода люминесценции полимеров (рис. 4) в коротковолновом
(УФ, ВУФ) диапазоне спектра, диапазоне энергий квантов зондирую-
щего синхротронного излучения
h
ν
≈
3
,
5
. . .
25
эВ, при допороговых
для развитого поверхностного испарения значениях плотности мощ-
ности зондирующего излучения
I
0
≈
10
12
фотон/(см
2
·
с) и температуре
Т
≈
77
. . .
300
K [8–10]. Полученные экспериментальные результаты
могут быть использованы при синтезе новых полимерных материалов
сложного химического состава с заданными оптическими, эмиссион-
ными и абсорбционными свойствами, а также для анализа многофак-
торных оптико-теплофизических процессов (светоэрозии конструкци-
онных материалов, в плазменных и фотонных энергетических уста-
новках высокой плотности мощности).
26 ISSN 0236-3941. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Машиностроение”. 2013. № 2
