значений параметров, разрабатывать методы коллективного ускорения
плазмы в интенсивных световых полях.
В состав модуля кластера “ФемтоЛаб МГТУ” входят блоки, свя-
занные оптически, электрически в единый оптоэлектронный и газо-
вакуумный контур. Принципиальная блок-схема модуля (рис. 11) со-
стоит из блока генерации импульсов лазерного излучения ультрако-
роткой длительности (поз.
1
–
8
); блока диагностики параметров лазер-
ного излучения (поз.
9
–
12
); блока создания и контроля необходимых
газовакуумных условий (поз.
14
,
21
); блока оптической диагностики
лазерно-индуцированных газоплазменных образований (поз.
13
,
15
,
17–19
,
22
,
23
); блоков синхронизации, сбора и обработки эксперимен-
тальных данных (поз.
20
,
24
,
25
).
В модуле на современной элементной базе осуществлены ком-
плексные оптические диагностики высокого пространственного и
временн´ого разрешения: регистрация эмиссионных и абсорбционных
спектров; спектров комбинационного рассеяния (поз.
17–19
,
22
,
23
),
которые в зависимости от задачи реализуются как в интегральном,
так и в дифференцированных по пространству и времени режимах
для отдельных линий (
λ/
Δ
λ
≈
30 000
) и широких (
λ/
Δ
λ
≈
4000
)
спектральных интервалов (
λ
≈
120
. . .
2000
нм) с использованием ли-
неек спектрометров и ВУФ-монохроматоров (
18
), приемников (
19
),
эталонных (
22
) и высокояркостных (
23
) источников излучения.
Это и интерференционные методы исследования низкотемператур-
ной плазмы, которые при комплексной автоматизированной обработке
весьма информативны, являются невозмущающими и обладают высо-
ким пространственным и временн ´ым разрешением [13, 14, 20]. Для
достижения наибольшего эффекта необходимо одновременное при-
менение нескольких методов с последующей комплексной обработ-
кой результатов [18]. Опыт применения схем Майкельсона и Маха–
Цендера для исследования поверхности мишени и приповерхностной
зоны показал не только преимущества комбинированного подхода к
исследованию светоэрозии, но и ряд ограничений по использованию
этих классических схем. Так, для интерференционной микроскопии
поверхности существуют достаточно жесткие требования к поверхно-
сти мишени (толщине и качеству тонкой пленки), связанные с диффуз-
ным отражением (пропусканием), к глубине светоэрозионного крате-
ра и уклону его стенок. Эти ограничения могут быть устранены при
использовании спекл-интерферометрии, безразличной к характеру по-
верхности. Для качественного анализа динамики и макроструктуры
светоэрозионных потоков и комплексной обработки эксперименталь-
ных результатов необходимо одновременно с интерференционными
картинами получение теневых (абсорбционных) картин. Это требова-
ние реализовано с помощью поляризационного интерферометра Но-
марского [20], принцип действия которого заключается в разделении
38 ISSN 0236-3941. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Машиностроение”. 2013. № 2
